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• 2022

  5-23
  氙燈老化試驗箱太陽能電池板專用標簽可靠度試驗

  氙燈老化試驗箱太陽能電池板專用標簽可靠度試驗1.溫度循環：－40℃(30min)←→100℃(30min)、升溫2.5小時、降溫2.5小時、120cycle2.紫外光照射試驗：連續30天(燈管功率800W，波長380nm~400nm，垂直照...

• 2022

  5-20
  JESD22-A119A-2015低溫存儲壽命試驗

  JESD22-A119A-2015低溫存儲壽命試驗說明：在不加任何偏壓情況下，藉由模擬低溫環境評定產品于長時間承受與對抗低溫的能力，此試驗過程不施加偏壓，試驗結束后回到常溫才能夠進行電性測試推薦設備：TECIEC60068-2-3試驗方法C...

• 2022

  5-20
  恒溫設備可靠性測試預處理

  恒溫設備可靠性測試預處理JESD22A113I塑料表面貼裝器件的可靠性測試之前的預處理說明：針對非密閉SMD零件，在電路板組裝過程，因為本身會因為封裝水氣導致SMD出現損壞，預處理可以模擬在組裝過程可能出現的可靠度問題，透過此規范的測試條件...

• 2022

  5-19
  快速溫變試驗箱在半導體行業中的環境測試

  快速溫變試驗箱在半導體行業中的環境測試JESD22-A104F-2020溫度循環說明：溫度循環(TEB)測試是讓IC零件經受*溫和極低溫之間，來回溫度轉換的可靠度測試，進行該測試時將IC零件重復暴露于這些條件下，經過循環次數，過程成被要求其...

• 2022

  5-19
  冷熱沖擊試驗箱在IC封住行業的可靠性環境測試

  冷熱沖擊試驗箱在IC封住行業的可靠性環境測試JESD22-A102E-2015封裝IC無偏壓PCT試驗說明：用來評價非氣密封裝器件在水汽凝結或飽和水汽環境下抵御水汽的完整性，樣品在高壓下處于凝結的、高濕度環境中，以使水汽進入封裝體內，暴露出...

• 2022

  5-19
  恒溫恒濕試驗箱JEDEC半導體可靠度測試與規范

  恒溫恒濕試驗箱JEDEC半導體可靠度測試與規范JESD22-A100E-2020循環溫濕度偏壓表面凝結壽命試驗說明：透過溫度循環+濕度+通電偏壓，來測試非密封封裝的固態器件在潮濕環境中的可靠度，這個測試規范采用[溫度循環+濕度+通電偏壓]的...