來源：皓天鑫設備有限公司??????????2026年01月08日 11:18
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近日，皓天鑫自主研發的HAST穩態濕熱壽命老化箱順利通過連續1000小時穩定運行測試。在整個測試期間，設備始終保持設定的高溫高濕穩態環境，各項性能參數精準穩定，實現了芯片老化測試連續可靠運行的新突破。該測試結果有效應對了芯片行業在長期可靠性驗證中“測試周期長、環境波動大、數據一致性難保障"的普遍難點，為半導體與集成電路產品的持續高質量驗證提供了堅實支撐。
在芯片可靠性測試領域，設備能否在高溫、高濕、高壓條件下持續穩定運行，直接關系到芯片壽命評估的準確性與測試效率。傳統老化箱在連續長時間運行中，容易出現溫濕度漂移、均勻性下降等問題，不僅影響測試進程、拉長產品上市周期，還可能因環境波動導致測試結果無效，造成研發資源與時間的雙重損耗。尤其在芯片驗證階段，設備穩定性已成為保障測試數據可靠、加快產品迭代的關鍵一環。
皓天鑫HAST穩態濕熱壽命老化箱能夠實現千小時連續穩定運行，核心在于其多層次的技術保障體系。設備采用高密封性箱體結構與均勻循環風道設計，確保箱內各點溫濕度分布高度一致；選用進口高精度傳感器與閉環控制系統，實時動態調節溫濕度參數，將波動范圍控制在±0.5%以內；搭載智能預警與數據記錄系統，可實時監測試驗狀態，提前預警潛在異常，確保測試過程全程可追溯、可分析。
測試數據表明，設備在連續1000小時運行期間，溫度均勻性保持在±0.3℃以內，濕度偏差不超過±1.5%RH,各項指標均符合芯片行業嚴苛的測試標準。相較于常規設備，其連續運行時長與參數穩定性顯著提升，可支持企業開展不間斷、高一致性的老化驗證工作，極大提高了測試效率與數據可信度。
此次測試獲得行業內多家芯片設計企業與檢測機構關注，部分客戶已前往實地考察并洽談合作。皓天鑫相關負責人表示，設備長期穩定運行是可靠性測試裝備的核心價值，本次測試充分體現了公司在環境模擬與長效控制方面的技術積累。未來，公司將繼續聚焦高可靠、智能化的測試設備研發，為芯片行業提供更精準、更穩定的壽命驗證解決方案。行業分析認為，該設備的成功應用，標志著國內芯片老化測試裝備在長效穩態運行方面取得重要進展，將推動相關測試由“分段式"向“連續化、高可靠"階段邁進。
